News release: Identifying imperfections with Raman spectroscopy (pdf)
Dosya boyutu: 2,25 MB
Dil: English
An article in Compound Semiconductor magazine, October 2015, describes how Raman spectroscopy allows routine mapping of SiC wafers in little more than an hour.
Bu tür dosyalar, ......’dan ücretsiz olarak elde edebileceğiniz bir görüntüleyici gerektirirler. Adobe
Aradığınız şeyi bulamadınız mı?
Bize neyi bulamadığınızı söyleyin ve size yardım etmek için elimizden geleni yapalım.