AFM-Raman Sistemi

Nano ölçek anlayışınızı genişletin

Birleşik AFM / Raman araçları (SPM – Raman olarak da bilinirler) malzemelerin kimyasal ve yapısal özelliklerini alt-mikrometre uzaklık ölçeğinde inceleyerek gelişmiş numune analizine imkan sağlarlar.

Renishaw inVia Raman mikroskobuGeliştirilmiş Uçlu Raman Spektroskopi (TERS), yakın – alan teknikleri (SNOM, NSOM) ve Raman – AFM özellikleri sunarak, pek çok SPM’ye bağlamak için mükemmel ortak haline getiren, en uygun doğrudan bağlama teknolojisini geliştirmiştir.

inVia Raman mikroskobu, herhangi bir SPM veya AFM’ye, NT – MDT ve Nanonics Imaging Ltd.’nin tarayıcılarında bulunan tamamen entegre olmuş sistemler ile bağlanma olasılığı sunmaktadır.

Araştırma ve endüstri için nanoteknoloji görüntüleme ve analiz sistemleri

Verimliliği En Yükseğe Çıkarın

Sadece Renishaw NT – MDT ve Nanonics Imaging Ltd. tarayıcılarını kullanan tamamen entegre olmuş sistemler sunmaktadır. Renishaw’ın AFM-Raman sistemleri aşağıdaki hizmetleri vermektedirler:

• Entegre sistemler ile size daha fazla zaman kalır – sistemin mekanik aksam ve yazılım entegrasyonu, sizin veri toplamanıza ve analize odaklanmanıza imkan tanıyacak şekilde tamamlanmıştır.
• Daha hızlı veri toplama – numune ve Raman spektrometresi arasındaki doğrudan bağlanma tüm konfigürasyonlarda en uygun verimliliği sağlar.
• Uzmanlara güvenin - yarı iletken ekipmanlarının ilk TERS metoduyla ölçümleri (2001'de yayınlanmıştır) ve ilk Raman-AFM/NSOM ölçümleri (1995'te yayınlanmıştır) Renishaw Raman sistemleri kullanılarak gerçekleştirilmişlerdir.
• Siz seçersiniz – Renishaw sizin seçtiğiniz SPM sistemlerini entegre etme deneyim ve uzmanlığına sahiptir.

Bir Renishaw Raman- SPM sistemi sizin için ne yapabilir?

Raman ile AFM
Yüksek uzaysal çözünürlüklü tarama ölçüm verisi ve hızlı uzak – alan Raman verisi (genellikle alt – mikrometre çözünürlük) elde edebilirsiniz. Raman verileri kayıt edilebilir ve yüksek uzaysal çözünürlüklü topografik, elektriksel, termal ve yakın alan optik verileri ile ilişkilendirilebilirler.

Bir grafin numunesinin Raman analizi (sağdaki resime bakınız),tek katman ve iki katmandan oluşan bölgeler dahil, beş ayrı grafin kalınlığı tanımlamıştır. Raman verileri, ilgilenilen bölgelerde topografik direnç ve iletim ölçümlerine imkan tanıyarak, SPM deneylerini yönlendirmek için kullanılmıştır.

Yakın-Alan Az-Açıklıklı Raman
Raman sinyalini, lazer ışığı ile aydınlatılmış daha büyük bir alan içerisinde numunenin çok yerelleşmiş bir bölgesinde güçlendirmek için bir uç kullanılır. Bu konfigürasyon herhangi bir Raman tekniğinin en yüksek uzaysal çözünürlüğünü sağlar.

TERS tarafından sağlanan üstün uzaysal hassasiyet katmanlı malzemeler kullanılarak gösterilebilir. Ters görüntü SiGe üzerindeki ince bir silikon tabakasının yakın alan (TERS) ve uzak – alan spektrumlarını karşılaştırır. TERS tarafından sağlanan üstün yüzey hassasiyeti çok daha yoğun bir silikon Raman bant oluşturur. (Büyük hacimli SiGe Ramandan daha düşük bir Raman frekansında)

Bu teknolojinin sizin nano ölçek anlayışınızı nasıl geliştirebildiğini keşfetmek, veya herhangi bir SPM veya AFM modelin in Via Raman mikroskobu ile entegre edilmesi hakkında daha fazla bilgiye sahip olmak için, lütfen çevrimiçi talep formunu doldurunuz veya yerel Renishaw Raman temsilcisiile temasa geçiniz.

Uygulamalar

Renishaw Raman sistemlerinin uygulama genişliklerini keşfedin.

Newsletter

All the latest innovations in Raman spectroscopy - newsletter sign up here

Download past and present newsletters from our Newsletter archive